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该测试系统为自动测试系统,具有测试**准确、操作简单、**性高度特点,能实现了200-250nm范围内**光谱响应度、**效率、归一化探测率、信号电压、噪声电压、响应时间等参数随波长、频率、外加偏压的变化曲线的全自动测试。 技术指标 光谱范围:200-2500nm(可根据实际需要选择) 光电源电流漂移:< 0.04%/h 波长准确度:±02nm 光谱分辨率:± 0.1nm 光谱带宽:0.2-10nm 可调 光斑:15mm,各点不均匀性<1% 偏压源:电压:200uV-505V;电流:20fA-200mA 系统噪声:< 2mV 系统重复性:< 2% 激光监视光路:CCD 图像监视,可对较小光电探测器进行**定位。 实测试Si 探测器光谱响应曲线